ED400型 渦流測厚儀
ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能顯著提高。
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質量監(jiān)督檢驗。
ED400型渦流測厚儀特點
量程寬
ED400型渦流測厚儀量程達到
0～500 μm。
精度高
測量精度達到2%。
分辨率高
分辨率達到0.1μm。
校正簡便
只校正“0"和“50 μm"兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設計精度。
基體導電率影響小
基體材料從純鋁變化到各種鋁合
金、紫銅、黃銅時，測量誤差不
大于1～2 μm。
可靠性提高
采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結構優(yōu)化，儀器可靠性提高。
穩(wěn)定性提高
采用*溫度補償技術，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
探頭芯壽命長
采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。
| ED400型渦流測厚儀技術參數(shù) | ||
| 測量范圍： | 0～500 μm | |
| 測量精度： | 0～50 μm：±1 μm； | |
| 50～500 μm：±2% | ||
| 分辨率： | 0～50 μm：0.1 μm； | |
| 50～500 μm：1 μm； | ||
| 0～500 μm：1 μm（可選） | ||
| 使用溫度： | 5～45℃ | |
| 外形尺寸： | 150 mm×80 mm×30 mm | |
| 重量： | 280 g | |
ED400型渦流測厚儀操作方法：
手持探頭的塑料部分，將探頭平穩(wěn)、垂直地落到清潔、干燥的試件上，儀器鳴叫一聲，顯示出膜厚值（測量時用力不要過大，以免損傷探頭）。抬高探頭，重新落下，可完成下一次測量。探頭抬高的高度應大于10mm，持續(xù)時間應大于2秒鐘。一般每一測量點測量5～10次，然后讀取統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
深圳市偉峰儀器儀表有限公司
地址：深圳市寶安區(qū)沙井街道步涌社區(qū)新和大道129號-177號(單號)E1306
主營產(chǎn)品：美國UVP紫外燈,美國sp紫外線燈,美國泛美38dl,,美國蒙那多頻閃儀,蒙那多轉速傳感器,ROS系列轉速傳感器
公司版權所有： 備案號：粵ICP備14041131號 總訪問量：475544 站點地圖 技術支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
